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Microscopio de fuerza atómica de sobremesa operativo en condiciones ambientales, incorpora un microscopio óptico para visualizar la zona de estudio junto al microfleje o punta. Puntas de silicio estándar disponibles. El sistema se controla con un ordenador PC que incluye además paquetes de análisis. El microscopio está instalado en una mesa de balanzas. Este equipo es ideal para la inspección ráp
Max. scan range / scan height (resolution) 70 µm (1.0 nm) / 14 µm (0.2 nm)Static / Dynamic RMS Z-noise typ. 0.4 nm (max. 0.8 nm) / typ. 0.3 nm (max. 0.8 nm)Max. sample size / height 12 mm / 3.5 mmTop view camera 2 µml resolution. Side view observation Imaging modes: Static Force, Dynamic Force, Phase Contrast, Spreading Resistance, Force ModulationSpectroscopy modes: Force–Distance, Amplitude–Distance, Voltage–Distance, Current–Voltage, Stop by end value, Fwd & Bwd pause
Microscopía de la superficie de materiales sólidos metálicos, semiconductores o dieléctricos. Estudio de las propiedades eléctricas, magnéticas y mecánicas locales.
TOLEDO
Instituto de Nanociencia, Nanotecnología y Materiales Moleculares
José Miguel Colino García
si se requiere tecnico para la realizacion de los estudios la tarifa se incrementa en 100,00 euros en los tres casos
Precio Interno: 50 €/hora.
Precio Externo: 200 €/hora.
OPI Precio: 50 €/hora.