Casa comercial: Veeco Instruments Inc.
Modelo: AFM Multimode V8.10
El AFM es un método para medir superficies que se basa en la interacción de una punta con la superficie de la muestra. Este método permite examinar las superficies de las muestras con una resolución nanométrica o incluso atómica, brindando datos sobre la topografía de la muestra.