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Microscopia de Fuerza Atomica (AFM)

Veeco Instruments Inc. AFM Multimode V8.10

Descripción del equipo

El AFM es un método para medir superficies que se basa en la interacción de una punta con la superficie de la muestra. Este método permite examinar las superficies de las muestras con una resolución nanométrica o incluso atómica, brindando datos sobre la topografía de la muestra.

Especificaciones

AFM multimode Nanoscope V. Modos de medida “Tapping mode” y “Contact Mode”.
Muestras depositadas en SiO2 o Mica.
Tamaño de la muestra máximo 1cm x 1cm.

Aplicaciones

Para muestras biológicas, investigación de nanomateriales y caracterización de oligómeros o macromoléculas. Facilita la evaluación de la estructura y conformación de estas.

Campus

TOLEDO

Ubicación

Instituto de Nanociencia, Nanotecnología y Materiales Moleculares

Persona de contacto

Imágenes

Tarifas

Analisis de la muestra sin asistencia

Las muestras deben ser previamente preparadas por el usuario

Precio Interno: 45 €/hora.

Precio Externo: 120 €/hora.

OPI Precio: 65 €/hora.

Análisis de datos con asistencia con asistencia

Se ofrece asistencia para el tratamiento de los datos en el programa WsxM.

Precio Interno: 40 €/hora.

Precio Externo: 60 €/hora.

OPI Precio: 50 €/hora.

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