Microscopio electrónico FE-SEM

FE-SEM (Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo) que proporciona imágenes tridimensionales de alta resolución de la morfología externa de una muestra, permitiendo la observación y la caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos

Tipo de emisión de campo térmico, estabilidad mejor que 0.2% / h Voltaje de aceleración: 0.02-30 Kv Intensidad de corriente: 3 pA-20nA Resolución máxima de imagen: Hasta 32k × 24k pixels Magnificación: 50 – 2,000,000 Detectores disponibles: Det. de electrones secundario Everhart Thornley; Inlens electrones secundarios; Nano VP con VPSE de alta eficiencia; Inlens Energy seleccionado Backscatter (EsB); STEM (aSTEM 4); EDS 80 mm2 Oxford; EBSD; Cryo-SEM Modelo: PP3010 Quorum

Obtención de imágenes tridimensionales de alta resolución de la morfología externa de una muestra, permitiendo la observación y la caracterización de materiales orgánicos e inorgánicos. Análisis de composición mediante espectroscopia de dispersión de energía (det. EDS). Investigación de la orientación cristalina (det. EBSD).