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Microscopio SEM

Jeol 6490LV

Descripción del equipo

Microscopio electrónico de barrido de alta resolución con detector de electrones secundarios, detector de electrones retrodispersados (BSE) y detector de rayos X (EDS).

Especificaciones

Voltaje de aceleración 0,3 kV a 30 kV, resolución de 3 nm a 8 mm de WD y 30kV con electrones secundarios, resolución de 4 nm a 5 mm de WD y 30kV con electrones retrodispersados, rango de aumentos de x5 a x300000, apertura de lente objetivo 0,02 mm, 0,03 mm y 0,1 mm.

Aplicaciones

Obtención de imágenes en alta resolución de la topografía de la superficie de la muestra enfocado a la caracterización de materiales.

Campus

ALBACETE

Ubicación

Instituto de Investigación en Energías Renovables

Persona de contacto

Imágenes

Tarifas

Microscopio SEM con EDS-autoservicio sin asistencia

Precio Interno: 15 €/hora.

Precio Externo: 30 €/hora.

OPI Precio: 15 €/hora.

Microscopio SEM con asistencia

Precio Interno: 50 €/hora.

Precio Externo: 100 €/hora.

OPI Precio: 50 €/hora.

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